导读 包括康奈尔工程学院团队在内的国际研究合作组织应用了一种新的基于 X 射线的重建技术，首次在相对较大的样本体积上对聚合物金属复合材料...
包括康奈尔工程学院团队在内的国际研究合作组织应用了一种新的基于 X 射线的重建技术，首次在相对较大的样本体积上对聚合物金属复合材料的纳米级自组装立方网络结构中的拓扑缺陷进行了观察。
未来，这种技术和新材料见解可以应用于研究表现出此类缺陷的其他中观结构——已知这些缺陷支撑了许多已知的物理现象，并能产生新的或增强的材料特性——在天然和合成的自组装材料中。
“这是一种新型聚合物、一种新型结构和一种新技术，可以重建前所未有的样本量，”材料科学与工程系 Spencer T. Olin 教授 Ulrich Wiesner 说道。“这才是关键：如果你有 70,000 个材料单元，而不是只有几十个单元，你就可以真正开始仔细观察缺陷结构——缺陷类型是什么，这些缺陷出现的频率是多少?”
Wiesner 是《纳米级单金刚石网络拓扑纹理高分辨率三维成像》一书的合著者，该书于7 月 23 日发表在《自然纳米技术》杂志上。通讯作者是日本仙台东北大学电气通信研究所助理教授 Justin Llandro。
威斯纳的研究小组自 25 年前来到康奈尔大学以来一直致力于嵌段共聚物自组装 (BCP SA) 研究，他负责监督研究中使用的三嵌段三元共聚物材料的合成。合成工作由威斯纳小组前成员 Takeshi Yuasa 和 Hiroaki Sai 负责。
Wiesner 表示，关于 BCP SA 生成的材料中缺陷的重要性的问题一直难以捉摸，部分原因是测量足够大样本量(相应缺陷结构较大)所需的技术发展缓慢。
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